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APPLIED STATS

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palpeur Certifié Microsoft CFAM Electronics

APPLIED STATS


Maîtrise Statistique du Procédé

sous Windows

Applied Stats Applied Stats - Histogramme - DIAMETRE Applied Stats - Cartes - DIAMETRE

 

Applied Stats, outil complet de maîtrise statistique du procédé (MSP-SPC), est un logiciel
puissant et particulièrement convivial en environnement Windows (2000, XP, Vista…)

 

Du paramétrage des gammes de contrôles au traitement statistique en passant par la
traçabilité et l’acquisition des données, Applied Stats vous permet de mettre en place
simplement et très rapidement des solutions personnalisables, efficaces, rapides et très
conviviales.

 

La configuration, notamment graphique, est souple et s’adapte à vos besoins et à vos
productions, pour une convivialité et une efficacité accrues.

Applied Stats est un logiciel ouvert, personnalisable, gérant tous types de capabilités
selon différentes normes et standards nationaux et internationaux.

 
 
 
POUR UNE INFORMATIQUE PLUS SIMPLE

 

Certifié Microsoft Partner

Répond aux normes de sécurités 21CFR PART 11

Fonctionne sous Windows

Utilisation sur tous types de réseaux

 
 
Applied Stats - Cartes - DIAMETRE
 
 


 
UN LOGICIEL OUVERT
Import de données
Export de données (fichiers texte ASCII)
Echange Dynamique de Données (DDE) sous Windows
Modules de communication pour base de données ODBC
(Oracle, Access, SQL…)
 
     
UN SPC PERSONNALISABLE
Paramétrage total des options et menus
Alarmes statistiques
Causes Assignables et Actions Correctives
Créations de liens spécifiques
Nombreux outils de personnalisation (…)


Applied Stats - Carte - DIAMETRE 2
 
 



 
UN LOGICIEL « TOUTES STATISTIQUES»
Traite tout type de capabilités
Capabilités Préliminaires, Procédé, R&R
Attributs, Variables, Séries courtes
Normes Internationales (QS9000, FORD)
Normes françaises (CNOMO)
 



 
DES ETATS STATISTIQUES PERSONNALISABLES
Cartes de contrôle
Histogrammes
Diagrammes de corrélation
Parétos
Rectangle & Moustache
Résumés statistiques (…)


 

CARTES DE CONTROLE :

 

Applied Stats - Cartes - LONGEUR

 
 

RESUMES STATISTIQUES :

  Résumé statistique
 
 

HISTOGRAMME :

 

Test de normalité, droite de Henry ; Capabilité du procédé : Cp, Cpk, Cpm ; Capabilité préliminaire : Pp, Ppk ; ppm (…)

 
 
Applied Stats - Histogramme - DIAMETRE
 

PARETOS :

 

 Paretos

 
 

DIAGRAMME DE CORRELATION :

  Diagramme de corrélation
 
  

POUR UNE CONVIVIALITE ACCRUE

Paramétrages graphiques poussés
Nombreux modes d’affichage
Prise de côte sur le dessin de la pièce
Convivialité Opérateurs&Qualité
Nombreuses options paramétrables

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

 

Applied Stats Maitrise Statistique

Applied Stats Maitrise Statistique
 

 
 
 
UN LOGICIEL « TOUTES ACQUISITIONS »
Instruments en RS 232
Instruments Digimatic (type Mitutoyo)
Capteurs ( Inductifs, Numériques…)
Dialogues avec automates via OPC
Acquisition via fichier texte ASCII (3D…)
Acquisition diverses (RS485, 4V20m…)

 
 
 
 
 
DES « PLUS » METROLOGIQUES
R&R (normes MSA)
Justesse et Linéarité (normes MSA)
Etalonnage pour capteurs inductifs
 
 
 

 
UN LOGICIEL MULTILINGUE
Français            Anglais                
Allemand           Espagnol             
Hollandais       

Portugais              Selections et tris de données
                                                     

Italien                Japonais              
Chinois              Evolutions constantes…
 
 

UN LOGICIEL « TOUTES INDUSTRIES »

 

 

Industrie Automobile

Industrie Aéronautique

 

 

Industrie Plastique

Industrie Electronique

 

 

Industrie des Forges

Industrie de l’Armement

 

 

Industrie du Verre

Industrie du Conditionnement

 

 

Industrie Agro-alimentaire

Industries diverses…

 

 


 
UNE TRACABILITE COMPLETE
Traçabilité totale & paramétrable
Horodatage automatique
Recherches multicritères (Lots, OF…)
Audits internes
Journal des évènements


SELECTIONS ET TRIS SIMPLIFIES DES DONNEES :