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APPLIED STATS

ANALYST

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palpeur Certifié Microsoft CFAM Electronics

ANALYST


Maîtrise Statistique du Procédé

sous Windows

Applied Stats

 

Analyst, logiciel complet de maîtrise statistique du procédé (MSP-SPC), est
 particulièrement
puissant et convivial en environnement Windows (2000, XP, Vista…)

 

Du paramétrage des gammes de contrôles au traitement statistique en
passant par la traçabilité, ANALYST vous permet de gérer facilement et
de manière conviviale vos gammes de contrôles et le calcul de vos
capabilités (Capabilités Préliminaires, Capabilités du Procédé et R&R)

 

Les états statistiques et les différents rapports proposés par ANALYST
sont personnalisables afin de s’adapter à tous les destinataires, de vos
besoins en interne à vos clients les plus exigeants.
Il est à préciser que la seule différence entre ANALYST et Applied Stats
se résume au fait que ANALYST ne permet pas la connexion
d’instrument de mesure de mesure ni de faire des acquisitions.
ANALST est donc généralement destiné à l’encadrement Qualité pour
une meilleure gestion de la MSP/SPC et Applied Stats aux postes
d’acquisition en atelier, en local de contrôle ou en métrologie.

 
 
 
POUR UNE INFORMATIQUE PLUS SIMPLE

 

Certifié Microsoft Partner

Répond aux normes de sécurités 21CFR PART 11

Fonctionne sous Windows

Utilisation sur tous types de réseaux

 
 
Applied Stats - Cartes - DIAMETRE
 
 


 
UN LOGICIEL OUVERT
Import de données
Export de données (fichiers texte ASCII)
Modules de communication pour base de données ODBC
(Oracle, Access, SQL…)
 
     
UN LOGICIEL « TOUTES STATISTIQUES»
Traite tout type de capabilités
Capabilités Préliminaires, Procédé, R&R
Attributs, Variables, Séries courtes 
Normes Internationales (QS9000, FORD)
Normes françaises (CNOMO)
     
DES ETATS STATISTIQUES PERSONNALISABLES
Cartes de contrôle
Histogrammes
Diagrammes de corrélation
Parétos
Rectangle & Moustache
Résumés statistiques (…)
 

PARETOS :

 

 Paretos

 

CARTES DE CONTROLE :

 

Applied Stats - Cartes - LONGEUR

 
 

RESUMES STATISTIQUES :

  Résumé statistique
 
 

 

DIAGRAMME DE CORRELATION :

  Diagramme de corrélation
 

HISTOGRAMME :

 

Test de normalité, droite de Henry ; Capabilité du procédé : Cp, Cpk, Cpm ; Capabilité préliminaire : Pp, Ppk ; ppm (…)

 
 
Applied Stats - Histogramme - DIAMETRE
 
Menu récapitulatif "DONNEES" :



 
 

Menu récapitulatif "EDITER LES DONNEES":


 
 

 
UN LOGICIEL MULTILINGUE
Français            Anglais                
Allemand           Espagnol             
Hollandais       

Portugais              Selections et tris de données
                                                     

Italien                Japonais              
Chinois              Evolutions constantes…
 
 

UN LOGICIEL « TOUTES INDUSTRIES »

 

 

Industrie Automobile

Industrie Aéronautique

 

 

Industrie Plastique

Industrie Electronique

 

 

Industrie des Forges

Industrie de l’Armement

 

 

Industrie du Verre

Industrie du Conditionnement

 

 

Industrie Agro-alimentaire

Industries diverses…

 

 


 
UNE TRACABILITE COMPLETE
Traçabilité totale & paramétrable
Horodatage automatique
Recherches multicritères (Lots, OF…)
Audits internes
Journal des évènements


JOURNAL DES EVENEMENTS :

 
   

SELECTIONS ET TRIS SIMPLIFIES DES DONNEES :